天線測試系統(tǒng)的誤差
發(fā)布時間：2023-03-03點擊量：123
天線測試系統(tǒng)的誤差
1、有限測試距離所引起的誤差。
設待測的是平面天線，接收的來波沿其主波束的軸向。若測試距離大小，由待測天線之不同部位所接受的場不能相同，因此具有平方根律相位差。若待測天線恰位于源天線遠場區(qū)的邊界2D2/λ，其口徑邊緣與相位中心的場存在22.5度的相位差.若測試距離加倍，在相位差減半。
對于測量中等旁瓣電平的天線，距離2D2/λ通常已經足夠，測出的增益約偏小0.06dB。測試距離縮短會使測量誤差迅速增大，旁瓣會與主波束合并成肩臺式，甚至合為一體。通常0.25dB的錐銷使測出的增益降低約為0.1dB，并造成近旁瓣的些許誤差。
2、反射引起誤差。
直射波受從周圍物體反射的干涉，在測試區(qū)域形成場的變化，由于該波波程差作為位置的函數而迅速變化，使起伏的長度屬于波長的數量級。例如比直射波低 20dB的反射波，可引起-0.92～+0.83dB的功率誤差，具體取決于兩種之間的差異;相位測量的誤差范圍為±5.7°，但若反射波的場比直射波低 40dB，則側出的幅度與相位分別僅有±0.09與±0.6°的誤差。
反射在低旁瓣的測量中特別有害。一項很小的反射通過主瓣耦合到待測天線，可以完全掩蓋住耦合到旁瓣的直射波。如果相耦合的直射和反射波強度相等，則測出的旁瓣電平會抬高6dB左右，或者在測得的波瓣圖中成為零點。
3、其他原因引起的誤差。
還有導致天線測量產生誤差的因素：低頻時與電抗近場的耦合可能比較顯著;測量天線的對準誤差;其他干擾信號;測試電纜所引起的誤差等。
